Międzynarodowy Kongres Metrologiczny

W dniach od 7 do 10 października już po raz 16 odbył się Międzynarodowy Kongres Metrologiczny. Miejscem Kongresu, wzorem lat poprzednich, był Paryż. Impreza organizowana jest nieprzerwanie od 30 lat (w cyklach dwu letnich) i ma już stałe miejsce w kalendarzu wydarzeń metrologicznych.

Podstawowe cele Kongresu postawione przez organizatorów to przede wszystkim: rozwój technik pomiarowych i ich znaczenie dla przemysłu, badań i społeczeństwa, pomiary jako narzędzie do poprawy i kontroli jakości produktów oraz wpływ metrologii na innowacje w technologii.

Podczas Kongresu w czasie 22 sesji plenarnych i tematycznych, 6-ciu okrągłych stołów oraz 3 sesji posterowych przedstawiono ponad 180 referatów. W Kongresie wzięło udział ponad 600 uczestników reprezentujących użytkowników przyrządów pomiarowych z przemysłu, ośrodków badawczych i akademickich, producentów przyrządów pomiarowych i oprogramowania, menedżerów jakości oraz pracowników nauki z blisko 50 krajów.

Kongresowi towarzyszyła wystawa 55 organizacji metrologicznych i firm z branżowych, gdzie uczestnicy mieli możliwość spotkania i zapoznania się z najnowszymi osiągnięciami firm produkujących i dostarczających aparaturę i aplikacje pomiarowe.

Jedyną polską firmą prezentującą swoje najnowsze rozwiązania w zakresie pomiarów masy był RADWAG Wagi Elektroniczne. Na stanowisku uczestnicy Kongresu mieli możliwość zapoznania się z ofertą komparatorów masy, stosowanych w laboratoriach wzorcujących wzorce masy i odważniki. Warto zauważyć że, oprócz RADWAG, na światowym rynku są jeszcze tylko dwie firmy produkujące tego typu urządzenia.

Nowością podczas tegorocznego Kongresu były specjalne warsztaty pomagające zainteresowanym organizacjom jak sobie poradzić przy realizacji europejskich programów badawczych.

Międzynarodowy Kongres Metrologiczny, dzięki tłumaczeniom symultanicznym podczas wszystkich sesji, był doskonałym wydarzeniem pozwalającym wymianę doświadczeń, dyskusję między wszystkimi członkami.

Organizatorem Kongresu był College Francias de Metrologie, przy udziale takich organizacji jak między innymi: BIPM, OIML, EURAMET, LNE, NPL, NCSL International czy METAS.

Kolejne spotkanie już za dwa lata.